請問兩個端口的掃參結果合成問題,謝謝
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建模時并排建了兩個相同的天線,分別用了port1和port2,要掃的參數(shù)是兩個天線的距離,要看頻率一定時距離變化對兩個天線方向圖合成結果的影響。
請問:1.掃參時怎樣同時得到各個天線的方向圖變化呢?
2.怎樣得到兩個天線方向圖的合成結果呢?
新手上路,不勝感激!
微波EDA (kaiqijixie.cn) 網友回復:
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網友回復
個人認為:
兩個單元的方向圖是一樣的,那么我們對單個仿真的方向圖不就是每個陣元的方向圖?
然后乘以陣因子不就是整個陣列的方向圖?
我們把距離設成變量進行掃描不是就得到了一個和距離的變化相關的整個陣列的方向圖嗎? -
網友回復
非常感謝~~~~~~~~~~~~ -
網友回復
建模時并排建了兩個相同的天線,分別用了port1和port2,要掃的參數(shù)是兩個天線的距離,要看頻率一定時距離變化對兩個天線方向圖合成結果的影響。
請問:1.掃參時怎樣同時得到各個天線的方向圖變化呢?
2 ... 說的很對,其實就是個相位的問題
不過你說的方法應該是要建立在兩個天線互偶很小的情況下,
若互偶很嚴重的話就應該通過仿真計算來得到準確的方向圖
至于掃參怎么得到方向圖,我也沒試過。 -
網友回復
掃參的時候的方向圖確實不能顯示出來,我曾經試過,不過好像可以分別導出每一個角度的掃參結果然后再用別的軟件處理一下。
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