8960 手機射頻測試使用操作培訓(xùn)—— WCDMA 篇

內(nèi)容簡介

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        8960 是美國安捷倫（Agilent）公司生產(chǎn)的手機綜測儀，可以用于 GSM、CDMA2000 、WCDMA 等各種制式的射頻性能測試。Agilent 8960 和羅德-施瓦茨 CMU200 是手機研發(fā)設(shè)計和生產(chǎn)過程中最常用的兩款綜測儀，對于手機射頻工程師和測試工程師，掌握8960的使用操作是必不可少的工作技能要求。
        現(xiàn)在，本站推出Agilent 8960 使用操作培訓(xùn)教程套裝，可以幫助有志于成為手機射頻工程師和測試工程師快速學(xué)習(xí)掌握 8960 的使用。套裝中WCDMA手機測試篇包含以下教程：

        01.  8960 WCDMA射頻測試詳細操作手冊（英文）
        02.  WCDMA手機研發(fā)測試建議書（8960）
        03.  8960 WCDMA射頻指標(biāo)基本測試手冊
        04.  Agilent 8960 WCDMA 測試操作說明
        05.  8960 Manual Operation Guide for WCDMA Tests

01.  8960 WCDMA射頻測試詳細操作手冊（英文）

        安捷倫科技提供的8960測試WCDMA手機射頻指標(biāo)的操作，圖文并茂給出了8960測試WCDMA各項射頻指標(biāo)測試的儀器設(shè)置和詳細操作步驟；有了該手冊，即使沒有任何基礎(chǔ)也可以得心應(yīng)手地使用8960進行WCDMA的測試。測試射頻指標(biāo)項由3GPP 34.121規(guī)范定義，具體內(nèi)容包括：
        8960 WCDMA Set Up Before Testing
        Transmitter Test
        5.2 Maximum Output Power
        5.3 Frequency Error
        5.4 Output Power Dynamics in the Uplink
                5.4.1 Open Loop Power Control in the Uplink
                5.4.2 Inner Loop Power Control in the Uplink
                5.4.3 Minimum Output Power
                5.4.4 Out-of-synchronization handling of output power
        5.5 Transmit ON/OFF Time mask
        5.6 Change of TFC
        5.7 Power setting in uplink compressed mode
        5.8 Occupied Bandwidth(OBW)
        5.9 Spectrum emission maskTRANSMITTERTEST
        5.10 Adjacent Channel Leakage Power Ratio(ACLR)
        5.11 Spurious Emissions
        5.12 Transmit Intermodulation
        5.13 Transmit Modulation
                5.13.1 Error Vector Magnitude(EVM)
                5.13.2 Peak code domain error
                5.13.3 UE phase discontinuity
                5.13.4 PRACH preamble qualityTRANSMITTERTEST
        Receiver Characteristics/Test
        6.2 Reference Sensitivity Level
        6.3 Maximum Input Level
        Performance RequirementsRECEIVERTEST
        7.2.1 Demodulation of Dedicated Channel (DCH)

02.  WCDMA手機研發(fā)測試建議書（8960）

        安捷倫科技提供的WCDMA手機研發(fā)測試建議書，同時給出了WCDMA各項射頻測試指標(biāo)所代表的實際物理意義。內(nèi)容如下：
        第1章 第三代移動通信與WCDMA概述
                1.1 第三代移動通信系統(tǒng)3G概述 
                1.2 WCDMA系統(tǒng)和無線傳輸技術(shù)
        第2章 WCDMA用戶設(shè)備（UE）測試要求
                2.1 WCDMA測試挑戰(zhàn)
                2.2 WCDMA UE測試要求和實現(xiàn) 
                        2.2.1 發(fā)射功率測試
                        2.2.2 發(fā)射頻譜測試 
                        2.2.3 調(diào)制質(zhì)量測試
                        2.2.4 接收機性能測試（Receiver Characteristics）
                        2.2.5 接收機解調(diào)質(zhì)量測試（Performance requirements）
        第3章 WCDMA手機研發(fā)過程以及安捷倫公司測試解決方案
                3.1 系統(tǒng)設(shè)計和仿真階段以及安捷倫公司測試解決方案
                3.2 元器件/電路/部件設(shè)計和驗證階段以及安捷倫公司測試解決方案
                3.3 系統(tǒng)集成和聯(lián)合調(diào)試階段以及安捷倫公司測試解決方案
                3.4 預(yù)認證和一致性測試階段
        第4章 安捷倫公司總體解決方案和服務(wù)

05. 8960 1xEV-DO Moblie Test Manual Operation Guide

        安捷倫科技提供的8960 WCDMA手機射頻測試詳細操作指導(dǎo)，英文原版，給出了WCDMA各項射頻指標(biāo)測試的測試方法、8960的具體操作設(shè)置和測試規(guī)范要求。內(nèi)容如下：
        1 HARDWARE REQUIREMENT
        2 MAXIMUM OUTPUT POWER(5.2)
                2.1 METHOD OF TEST        2.2 8960 OPERATION        2.3 TEST REQUIREMENT
        3 MAXIMUM OUTPUT POWER WITH HS-DPCCH (5.2A)
                3.1 METHOD OF TEST        3.2 8960 OPERATION        3.3 TEST REQUIREMENT
        4 FREQUENCY ERROR
                4.1 METHOD OF TEST        4.2 8960 OPERATION        4.3 TEST REQUIREMENT
        5 OPEN LOOP POWER CONTROL IN THE UPLINK(5.4.1)
                5.1 METHOD OF TEST        5.2 8960 OPERATION        5.3 TEST REQUIREMENT
        6 INNER LOOP POWER CONTROL IN THE UPLINK (5.4.2)
                6.1 METHOD OF TEST        6.2 8960 OPERATION        6.3 TEST REQUIREMENT
        7 MINIMUM OUTPUT POWER (5.4.3)
                7.1 METHOD OF TEST        7.2 8960 OPERATION        7.3 TEST REQUIREMENT
        8 OUT-OF-SYNCHRONIZATION HANDLING OF OUTPUT POWER (5.4.4)
                8.1 METHOD OF TEST        8.2 INSTRUMENT CONFIGURATION        8.3 TEST REQUIREMEN
        9 TRANSMIT OFF POWER (5.5.1)
                9.1 METHOD OF TEST        9.2 TEST REQUIREMENT
        10 TRANSMIT ON/OFF TIME MASK (5.5.2)
                10.1 METHOD OF TEST        10.2 8960 OPERATION        10.3 TEST REQUIREMENT
        11 CHANGE OF TFC (5.6) 
                11.1 METHOD OF TEST        11.2 8960 OPERATION        11.3 TEST REQUIREMENT
        12 HS-DPCCH (5.7A)
                12.1 METHOD OF TEST        12.2 8960 OPERATION        12.3 TEST REQUIREMENT
        13 OCCUPIED BANDWIDTH (5.8)
                13.1 METHOD OF TEST        13.2 8960 OPERATION        13.3 TEST REQUIREMENT
        14 SPECTRUM EMISSION MASK (5.9)
                14.1 METHOD OF TEST        14.2 8960 OPERATION        14.3 TEST OF REQUIREMENT
        15 SPECTRUM EMISSION MASK WITH HS-DPCCH (5.9A)
                15.1 METHOD OF TEST        15.2 8960 OPERATION        15.3 TEST OF REQUIREMENT
        16 ADJACENT CHANNEL LEAKAGE POWER RATIO (ACLR) (5.10)
                16.1 METHOD OF TEST        16.2 8960 OPERATION        16.3 TEST REQUIREMENT
        17 ADJACENT CHANNEL LEAKAGE POWER RATIO WITH HS-DPCCH (ACLR) (5.10A) 
                17.1 METHOD OF TEST        17.2 8960 OPERATION        17.3 TEST REQUIREMENT
        18 ERROR VECTOR MAGNITUDE (EVM, 5.13.1)
                18.1 METHOD OF TEST        18.2 8960 OPERATION        18.3 TEST REQUIREMENT
        19 ERROR VECTOR MAGNITUDE (EVM) WITH HS-DPCCH (5.13.1 A) 
                19.1 METHOD OF TEST        19.2 8960 OPERATION        19.3 TEST REQUIREMENT
        20 PEAK CODE DOMAIN ERROR (5.13.2)
                20.1 METHOD OF TEST        20.2 8960 OPERATION        20.3 TEST REQUIREMENT
        21 UE PHASE DISCONTINUITY (5.13.3) 
                21.1 METHOD OF TEST        21.2 8960 OPERATION        21.3 TEST REQUIREMENT
        22 PRACH PREAMBLE QUALITY (5.13.4) 
                22.1 METHOD OF TEST        22.2 8960 OPERATION        22.3 TEST REQUIREMENT
        23 REFERENCE SENSITIVITY LEVEL (6.2)
                23.1 METHOD OF TEST        23.2 8960 OPERATION        23.3 TEST REQUIREMENT
        24 MAXIMUM INPUT LEVEL (6.3) 
                24.1 METHOD OF TEST        24.2 8960 OPERATION        24.3 TEST REQUIREMENT

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