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天線測量的問題

文章來源: 互聯(lián)網(wǎng)    錄入: mweda.com   

 
近場測量系統(tǒng)中,探頭陣列對待測天線的平面波照射是測量的關(guān)鍵技術(shù)之一 
 
我想問下,平面波照射待測天線是起到什么作用?謝謝!

網(wǎng)友回復:

天線近場測量實際上是用的互易原理,也就說我們要測量天線的遠場特性(增益,方向圖等)。而近場測量中我們用陣列探頭綜合出某個方向入射的平面波來照射被測天線,根據(jù)互易原理,此時被測天線的接受幅度實際上就是相當于被測天線在該方向的輻射遠場幅度。這樣我們就得到了該天線的輻射遠場特性。 
  不知道我寫清楚了沒有。如果沒有寫清楚,請指出哪里有疑問我繼續(xù)回答。

網(wǎng)友回復:

非常感謝,你說的很清楚!

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