雷擊浪涌發(fā)生器對(duì)電子產(chǎn)品的影響以及它的等級(jí)是如何劃分的

來源：中翔儀器更新時(shí)間：2024-07-13 閱讀：

大家應(yīng)該都知道雷擊浪涌發(fā)生器的存在，而雷擊浪涌發(fā)生器主要用于評(píng)估鐵道信號(hào)設(shè)備與電源線連接的設(shè)備抗沖擊抗擾度試驗(yàn)的一款設(shè)備，那么關(guān)于雷擊浪涌會(huì)對(duì)電子設(shè)備造成什么樣的影響呢？

雷擊浪涌產(chǎn)生的時(shí)間非常短，大概在微微秒級(jí)。浪涌出現(xiàn)時(shí)，電壓電流的幅值超過正常值的兩倍以上。由于輸入濾波電容迅速充電，所以該峰值電流遠(yuǎn)遠(yuǎn)大于穩(wěn)態(tài)輸入電流。電源應(yīng)該限制AC開關(guān)、整流橋、保險(xiǎn)絲、EMI濾波器件能承受的浪涌水平。反復(fù)開關(guān)環(huán)路，AC輸入電壓不應(yīng)損壞電源或者導(dǎo)致保險(xiǎn)絲燒斷

電壓波動(dòng)。在正常工作情況下，機(jī)器設(shè)備會(huì)自動(dòng)停止或啟動(dòng)。用電設(shè)備中有空調(diào)、壓縮機(jī)、電梯、泵或電機(jī)，電腦控制系統(tǒng)經(jīng)常出現(xiàn)無理由復(fù)位。電機(jī)經(jīng)常要更換或重繞。電氣設(shè)備由于故障、復(fù)位或電壓?jiǎn)栴}而縮短使用壽命。
對(duì)設(shè)備造成破壞。電壓擊穿半導(dǎo)體器件，破壞元器件金屬化表層，破壞印刷電路板印刷線路或接觸點(diǎn)，破壞三端雙可控硅元件/晶閘管。
對(duì)設(shè)備造成使用干擾。鎖死、晶閘管或三端雙向可控硅元件失控，數(shù)據(jù)文件部分破壞，數(shù)據(jù)處理程序出錯(cuò)，接收、傳輸數(shù)據(jù)的錯(cuò)誤和失敗，過早老化，零部件提前老化、電器壽命大大縮短，輸出音質(zhì)、畫面質(zhì)量下降。

雷擊浪涌測(cè)試儀試驗(yàn)方法

雷擊浪涌測(cè)試儀的起因是電力系統(tǒng)的開關(guān)瞬態(tài)和雷電瞬態(tài)；而浪涌抗擾度試驗(yàn)?zāi)康氖墙⒁粋€(gè)共同的基準(zhǔn)，以評(píng)價(jià)電氣和電子設(shè)備在遭受浪涌（沖擊）時(shí)的性能。

根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)IEC61000-4-5浪涌沖擊抗擾度試驗(yàn)一般要求，雷擊浪涌發(fā)生器模擬1.2/50us電壓波形，8/20us電流波形和組合波（電壓波形：10/700us，電流波形：5/320us），通過耦合網(wǎng)絡(luò)，將波形耦合至被測(cè)電路中，已達(dá)到實(shí)驗(yàn)?zāi)康摹?/p>

雷擊浪涌測(cè)試儀實(shí)驗(yàn)等級(jí)

雷擊浪涌測(cè)試儀實(shí)驗(yàn)等級(jí)根據(jù)電壓嚴(yán)酷程度分為1，2，3，4和X級(jí)，其中X及為開放級(jí)，每一級(jí)對(duì)應(yīng)的電壓強(qiáng)度如表一。

嚴(yán)酷等級(jí)應(yīng)用范圍則取決于環(huán)境（遭受浪涌可能性的環(huán)境）及安裝條件，大體按照以下條件分類：

1級(jí)：較好保護(hù)的環(huán)境，如工廠或電站的控制室。 2級(jí)：有一定保護(hù)的環(huán)境，如無強(qiáng)干擾的工廠。 3級(jí)：普通的電磁騷擾環(huán)境，對(duì)設(shè)備未規(guī)定特殊安裝要求，如普通安裝的電纜網(wǎng)絡(luò)，工業(yè)性的工作場(chǎng)所和變電所。 4級(jí)：受嚴(yán)重騷擾的環(huán)境，如民用架空線，未加保護(hù)的高壓變電所。 X級(jí)：特殊級(jí)，由用戶和制造商協(xié)商后確定。具體產(chǎn)品選用哪一級(jí)，一般由產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)定。

雷擊浪涌測(cè)試儀實(shí)驗(yàn)結(jié)果

雷擊浪涌測(cè)試儀測(cè)試是破壞性試驗(yàn)，視被測(cè)物破壞程度，分為以下幾種情況：